KS I 0051-1999
Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.

Estándar No.

KS I 0051-1999

Fecha de publicación

1999

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS I 0051-1999(2019)

Ultima versión

KS I 0051-1999(2019)

Reemplazar

M0044

Alcance

Este estándar utiliza microscopía electrónica de barrido y examina partes diminutas de la superficie de la muestra principalmente mediante electrones secundarios.

KS I 0051-1999 Historia

• 0000 KS I 0051-1999(2019)
• 1999 KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.