KS C IEC 60749-10:2004
Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 10: Choque mecánico

Estándar No.

KS C IEC 60749-10:2004

Fecha de publicación

2004

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-10:2020

Ultima versión

KS C IEC 60749-10:2020

Alcance

La prueba de impacto se refiere a la acción repentina o la acción de fuerza resultante de un manejo, transporte o procesamiento brusco.

KS C IEC 60749-10:2004 Historia

• 2020 KS C IEC 60749-10:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico.
• 2004 KS C IEC 60749-10:2004 Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 10: Choque mecánico