KS C IEC 60749-7:2004
Dispositivos semiconductores －Métodos de prueba mecánicos y climáticos －Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.

Estándar No.

KS C IEC 60749-7:2004

Fecha de publicación

2004

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-7:2020

Ultima versión

KS C IEC 60749-7:2020

Alcance

Esta norma mide el contenido de vapor de agua y castañas de elementos metálicos o cerámicos.

KS C IEC 60749-7:2004 Historia

• 2020 KS C IEC 60749-7:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.
• 2004 KS C IEC 60749-7:2004 Dispositivos semiconductores －Métodos de prueba mecánicos y climáticos －Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.