El alcance y el enfoque de este documento se refiere a las técnicas de prueba de pulso de línea de transmisión muy rápida (VF-TLP) de componentes semiconductores.
ANSI/ESD SP5.5.2-2007 Historia
2007ANSI/ESD SP5.5.2-2007 Prueba de sensibilidad de descarga electrostática Pulso de línea de transmisión muy rápida (VF-TLP): nivel de componente