BS EN 62047-11:2013
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Método de prueba para coeficientes de expansión térmica lineal de materiales independientes para sistemas microelectromecánicos.
- Estándar No.
- BS EN 62047-11:2013
- Fecha de publicación
- 2013
- Organización
- British Standards Institution (BSI)
- Ultima versión
- BS EN 62047-11:2013
BS EN 62047-11:2013 Historia
- 2013 BS EN 62047-11:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Método de prueba para coeficientes de expansión térmica lineal de materiales independientes para sistemas microelectromecánicos.
