BS EN 62047-18:2013
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Métodos de prueba de flexión de materiales de película delgada.

Estándar No.

BS EN 62047-18:2013

Fecha de publicación

2013

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS EN 62047-18:2013

BS EN 62047-18:2013 Historia

• 2013 BS EN 62047-18:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Métodos de prueba de flexión de materiales de película delgada.