ANSI/EIA 970:2013
Procedimiento de prueba para la caracterización de alta frecuencia de condensadores de chip cerámicos multicapa de baja inductancia.
- Estándar No.
- ANSI/EIA 970:2013
- Fecha de publicación
- 2013
- Organización
- American National Standards Institute （ANSI)
- Ultima versión
- ANSI/EIA 970:2013
ANSI/EIA 970:2013 Historia
- 2013 ANSI/EIA 970:2013 Procedimiento de prueba para la caracterización de alta frecuencia de condensadores de chip cerámicos multicapa de baja inductancia.
