ISO/TS 17915:2013 Óptica y fotónica. Método de medición de láseres semiconductores para detección. normas y especificaciones

Alcance: Esta especificación técnica describe métodos para medir la temperatura, la dependencia de la corriente inyectada y el ancho de la línea espectral del láser en relación con los láseres semiconductores para aplicaciones de detección. Esta especificación técnica es aplicable a todo tipo de láseres semiconductores, como láseres de tipo emisor de borde y de tipo emisor de superficie de cavidad vertical, láseres de pozo cuántico de tipo masivo y (tensados) y láseres de cascada cuántica, utilizados para detección óptica, por ejemplo, en industrias, campos médicos y agrícolas. Esta Especificación Técnica es una aplicación de la Norma ISO 13695, en la que se explican las bases físicas.

ISO/TS 17915:2013 Documento de referencia

ISO 13695 Óptica y fotónica - Láseres y equipos relacionados con el láser - Métodos de prueba para las características espectrales de los láseres

2013 ISO/TS 17915:2013 Óptica y fotónica. Método de medición de láseres semiconductores para detección.