BS EN 60749-30+A1:2006
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Preacondicionamiento de dispositivos de montaje en superficie no herméticos antes de las pruebas de confiabilidad

Estándar No.

BS EN 60749-30+A1:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

British Standards Institution (BSI)

Estado

 2006-01

Remplazado por

BS EN 60749-30:2005+A1:2011

Ultima versión

BS EN 60749-30:2005+A1:2011

BS EN 60749-30+A1:2006 Historia

• 2006 BS EN 60749-30:2005+A1:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Preacondicionamiento de dispositivos de montaje en superficie no herméticos antes de las pruebas de confiabilidad
• 2006 BS EN 60749-30:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 30: Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de las pruebas de confiabilidad.