BS EN 60749-30:2005+A1:2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Preacondicionamiento de dispositivos de montaje en superficie no herméticos antes de las pruebas de confiabilidad

Estándar No.

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Fecha de publicación

2006

Organización

British Standards Institution (BSI)

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• 2006 BS EN 60749-30:2005+A1:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Preacondicionamiento de dispositivos de montaje en superficie no herméticos antes de las pruebas de confiabilidad
• 2006 BS EN 60749-30:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 30: Preacondicionamiento de dispositivos de montaje superficial no herméticos antes de las pruebas de confiabilidad.