NF C96-050-13*NF EN 62047-13:2012
Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 13: métodos de prueba de tipo flexión y corte para medir la resistencia del adhesivo para estructuras MEMS

Estándar No.

NF C96-050-13*NF EN 62047-13:2012

Fecha de publicación

2012

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF C96-050-13*NF EN 62047-13:2012

NF C96-050-13*NF EN 62047-13:2012 Historia

• 2012 NF C96-050-13*NF EN 62047-13:2012 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 13: métodos de prueba de tipo flexión y corte para medir la resistencia del adhesivo para estructuras MEMS