IEC 61788-17:2013 Superconductividad - Parte 17: Medidas características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie normas y especificaciones

Alcance: Esta parte de IEC 61788 describe las mediciones de la densidad de corriente crítica local (Jc) y su distribución en películas superconductoras de alta temperatura (HTS) de área grande mediante un método inductivo que utiliza voltajes de tercer armónico. La consideración más importante para mediciones precisas es determinar Jc a temperaturas de nitrógeno líquido mediante un criterio de campo eléctrico y obtener características de corriente-voltaje a partir de su dependencia de la frecuencia. Aunque es posible medir Jc en campos magnéticos de CC aplicados [20@ 21]2@, el alcance de esta norma se limita a la medición sin campos magnéticos de CC. Esta técnica mide intrínsecamente la corriente crítica de la lámina que es el producto de Jc y el espesor de la película d. El rango y la resolución de medición para Jcd de películas HTS son los siguientes: ?C Jcd: de 200 A/m a 32 kA/m (basado en resultados @ sin limitación); ?C Resolución de medición: 100 A/m (basado en resultados @ sin limitación).

IEC 61788-17:2013 Historia

0000 IEC 61788-17:2021 RLV
2013 IEC 61788-17:2013 Superconductividad - Parte 17: Medidas características electrónicas - Densidad de corriente crítica local y su distribución en películas superconductoras de gran superficie