LST EN 62047-13-2012
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 13: Métodos de ensayo de tipo flexión y corte para medir la resistencia adhesiva de estructuras MEMS (IEC 62047-13:2012).

Estándar No.

LST EN 62047-13-2012

Fecha de publicación

2012

Organización

Lithuanian Standards Office

Ultima versión

LST EN 62047-13-2012

LST EN 62047-13-2012 Historia

• 2012 LST EN 62047-13-2012 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 13: Métodos de ensayo de tipo flexión y corte para medir la resistencia adhesiva de estructuras MEMS (IEC 62047-13:2012).