GB/T 29299-2012
Especificaciones generales del telémetro láser semiconductor. (Versión en inglés)

Estándar No.
GB/T 29299-2012
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2012
Organización
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión
GB/T 29299-2012
Alcance
Esta norma especifica los requisitos, métodos de prueba, reglas de inspección, embalaje, transporte y marcado de telémetros láser semiconductores. Esta norma se aplica a los instrumentos de medición de distancias con láser semiconductor.

GB/T 29299-2012 Documento de referencia

  • GB 7247.1 Seguridad de los productos láser. Parte 1: Clasificación y requisitos de los equipos.
  • GB/T 10320 Seguridad eléctrica de equipos e instalaciones láser.
  • GB/T 12085.11 Óptica y fotónica. Métodos de prueba ambientales. Parte 11: Crecimiento de moho.*2022-10-14 Actualizar
  • GB/T 12085.2 Óptica y fotónica. Métodos de prueba ambientales. Parte 2: Frío, calor y humedad.*2022-10-14 Actualizar
  • GB/T 12085.7 Óptica y fotónica. Métodos de prueba ambientales. Parte 7: Resistencia al goteo o la lluvia.*2022-10-14 Actualizar
  • GB/T 13384 Especificaciones generales para embalaje de productos mecánicos y eléctricos.
  • GB/T 13739 Métodos de prueba para anchos de haz láser, ángulo de divergencia y modo transversal.
  • GB/T 15313 Terminología para láser
  • GB/T 2828.1 Procedimiento de inspección por muestreo de conteo, parte 1: Plan de muestreo de inspección lote por lote recuperado por el límite de calidad de aceptación (AQL)*2013-02-15 Actualizar
  • GB/T 2829 Procedimientos y tablas de muestreo para inspección periódica por atributos (Aplicar a inspección de estabilidad del proceso)
  • GB/T 4857.10 Embalaje-Pruebas básicas para paquetes de transporte-Parte 10: Método de prueba de vibración sinusoidal utilizando una frecuencia de vibración variable
  • GB/T 4857.5 Embalaje--Paquetes de transporte--Método de prueba de impacto vertical por caída
  • GB/T 5080.1 Pruebas de confiabilidad. Parte 1: Condiciones de prueba y principios de prueba estadística.

GB/T 29299-2012 Historia

  • 2012 GB/T 29299-2012 Especificaciones generales del telémetro láser semiconductor.



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