IEEE/ANSI N42.31-2003
Estándar nacional estadounidense para procedimientos de medición para la resolución y eficiencia de detectores semiconductores de radiación ionizante de banda ancha

Estándar No.

IEEE/ANSI N42.31-2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Ultima versión

IEEE/ANSI N42.31-2003

IEEE/ANSI N42.31-2003 Historia

• 2003 IEEE/ANSI N42.31-2003 Estándar nacional estadounidense para procedimientos de medición para la resolución y eficiencia de detectores semiconductores de radiación ionizante de banda ancha