ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica normas y especificaciones

Alcance: 1.1 Todos los microscopios están sujetos a artefactos. El propósito de este documento es proporcionar una descripción de los artefactos comúnmente observados en la microscopía de efecto túnel (STM) y la microscopía de fuerza atómica (AFM) relacionados con el movimiento de la sonda y las consideraciones geométricas de la interacción entre la punta y la superficie, proporcionar referencias bibliográficas de ejemplos y, cuando posible, ofrecer una interpretación sobre el origen del artefacto. Debido a que el campo de la microscopía de sonda escaneada es un campo floreciente, este documento no pretende ser exhaustivo sino más bien servir como una guía para los microscopistas en ejercicio sobre los posibles obstáculos que pueden esperarse. La capacidad de reconocer artefactos debería ayudar en la evaluación confiable del funcionamiento del instrumento y en la presentación de datos. 1.2 Aquí se definirá un conjunto limitado de términos. Una descripción completa de la terminología relacionada con la descripción, operación y calibración de instrumentos STM y AFM está fuera del alcance de este documento. 1.3 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma.

ASTM E2382-04(2012) Documento de referencia

ASTM E1813 Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido

2020 ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
2004 ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
2004 ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica