LST EN 62047-8-2011
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 8: Método de ensayo de flexión de tiras para medir la propiedad de tracción de películas delgadas (IEC 62047-8:2011).

Estándar No.

LST EN 62047-8-2011

Fecha de publicación

2011

Organización

Lithuanian Standards Office

Ultima versión

LST EN 62047-8-2011

LST EN 62047-8-2011 Historia

• 2011 LST EN 62047-8-2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 8: Método de ensayo de flexión de tiras para medir la propiedad de tracción de películas delgadas (IEC 62047-8:2011).