LST EN 62047-9-2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 9: Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS (IEC 62047-9:2011).
2011LST EN 62047-9-2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 9: Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS (IEC 62047-9:2011).