LST EN 60749-38-2008
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 38: Método de prueba de error leve para dispositivos semiconductores con memoria (IEC 60749-38:2008).

Estándar No.

LST EN 60749-38-2008

Fecha de publicación

2008

Organización

Lithuanian Standards Office

Ultima versión

LST EN 60749-38-2008

LST EN 60749-38-2008 Historia

• 2008 LST EN 60749-38-2008 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 38: Método de prueba de error leve para dispositivos semiconductores con memoria (IEC 60749-38:2008).