LST EN 60749-12-2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibraciones, frecuencia variable (IEC 60749-12:2002)

Estándar No.

LST EN 60749-12-2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Lithuanian Standards Office

Ultima versión

LST EN 60749-12-2003

LST EN 60749-12-2003 Historia

• 2003 LST EN 60749-12-2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibraciones, frecuencia variable (IEC 60749-12:2002)