LST EN 60749-4-2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerada (HAST) (IEC 60749-4:2002)

Estándar No.

LST EN 60749-4-2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Lithuanian Standards Office

Ultima versión

LST EN 60749-4-2003

LST EN 60749-4-2003 Historia

• 2003 LST EN 60749-4-2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerada (HAST) (IEC 60749-4:2002)