Esta parte de IEC 61788 describe las mediciones de la impedancia superficial intrínseca (ZS) de películas HTS en frecuencias de microondas mediante un método de resonador dieléctrico modificado de modo de dos resonancias [13, 14]2. El objeto de la medición es obtener la dependencia de la temperatura del ZS intrínseco a la frecuencia resonante f0. El rango de frecuencia y espesor y la resolución de medición para el ZS intrínseco de las películas HTS son los siguientes: frecuencia: hasta 40 GHz;. espesor de la película: mayor que 50 nm;. resolución de medición: 0,01 mÙ a 10 GHz. Los datos ZS intrínsecos a la frecuencia medida, y escalados a 10 GHz, asumiendo la regla f2 para la resistencia superficial intrínseca