DS/EN 60749-4/Corr.1:2004

Estándar No.

DS/EN 60749-4/Corr.1:2004

Fecha de publicación

2004

Organización

Danish Standards Foundation

Ultima versión

DS/EN 60749-4/Corr.1:2004

Alcance

Esta parte de IEC 60749 proporciona una prueba de estrés de temperatura y humedad (HAST) altamente acelerada con el fin de evaluar la confiabilidad de dispositivos semiconductores empaquetados no herméticos en ambientes húmedos.

DS/EN 60749-4/Corr.1:2004 Historia

• 2004 DS/EN 60749-4/Corr.1:2004
• 2003 DS/EN 60749-4:2003