Esta prueba se utiliza para determinar los efectos de las condiciones de polarización y la temperatura en dispositivos de estado sólido a lo largo del tiempo. Simula la condición de funcionamiento del dispositivo de forma acelerada y se utiliza principalmente para la calificación del dispositivo y el monitoreo de confiabilidad. Se puede utilizar una forma de vida sesgada por alta temperatura que utiliza una duración corta, conocida popularmente como "quemado", para detectar fallas relacionadas con la mortalidad infantil. El uso y aplicación detallados del burn-in están fuera del alcance de esta norma.