DS/EN 13925-1:2003
Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.

Estándar No.

DS/EN 13925-1:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Danish Standards Foundation

Ultima versión

DS/EN 13925-1:2003

Alcance

Esta norma especifica los principios generales de la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Este método de prueba de materiales se ha denominado tradicionalmente "difracción de rayos X en polvo (XRPD)" y ahora se aplica a polvos, materiales a granel, películas delgadas y otros. Como el método puede utilizarse para diversos tipos de materiales y para obtener una gran variedad de información, esta norma revisa una gran cantidad de tipos de análisis, pero no es exhaustiva.

DS/EN 13925-1:2003 Historia

• 2003 DS/EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.