NF C96-022-23/A1*NF EN 60749-23/A1:2012
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: vida útil a alta temperatura.

Estándar No.

NF C96-022-23/A1*NF EN 60749-23/A1:2012

Fecha de publicación

2012

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF C96-022-23/A1*NF EN 60749-23/A1:2012

NF C96-022-23/A1*NF EN 60749-23/A1:2012 Historia

• 2012 NF C96-022-23/A1*NF EN 60749-23/A1:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: vida útil a alta temperatura.