NF X21-073*NF ISO 16243:2012
Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS).

Estándar No.

NF X21-073*NF ISO 16243:2012

Fecha de publicación

2012

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF X21-073*NF ISO 16243:2012

NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Historia

• 2012 NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS).