GB/T 5201-2012 (Versión en inglés)

Estándar No.: GB/T 5201-2012
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2012
Organización: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión: GB/T 5201-2012
Reemplazar: GB/T 5201-1994

Alcance: Esta norma especifica los métodos de medición de las características eléctricas y el rendimiento de la radiación nuclear de los detectores de semiconductores de partículas cargadas y los métodos de prueba para algunos entornos especiales. Esta norma se aplica a detectores de semiconductores con capas parcialmente agotadas de partículas cargadas. La medición de detectores de semiconductores completamente agotados se puede realizar con referencia a esta norma.

GB/T 5201-2012 Documento de referencia

GB/T 10263-2006 Condiciones ambientales y procedimientos de prueba para detectores de radiación nuclear.
GB/T 13178-2008 Detectores de barrera de superficie de silicio dorado parcialmente agotados
GB/T 4960.6-2008 Glosario de términos de ciencia y tecnología nucleares.Parte 6: Instrumentación nuclear

2012 GB/T 5201-2012 Procedimientos de prueba para detectores de partículas cargadas de semiconductores.
1994 GB/T 5201-1994 Procedimientos de prueba para detectores de partículas cargadas de semiconductores.