BS EN 62047-13:2012
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Métodos de prueba de tipo flexión y corte para medir la resistencia adhesiva para estructuras MEMS

Estándar No.

BS EN 62047-13:2012

Fecha de publicación

2012

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS EN 62047-13:2012

BS EN 62047-13:2012 Historia

• 2012 BS EN 62047-13:2012 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Métodos de prueba de tipo flexión y corte para medir la resistencia adhesiva para estructuras MEMS