DIN EN 14784-1:2005
Ensayos no destructivos. Radiografía industrial computarizada con placas de almacenamiento de imágenes de fósforo. Parte 1: Clasificación de sistemas; Versión inglesa de DIN EN 14784-1

Estándar No.

DIN EN 14784-1:2005

Fecha de publicación

2005

Organización

German Institute for Standardization

Estado

Remplazado por

DIN EN 14784-1:2005-11

Ultima versión

DIN EN 14784-1:2005-11

Alcance

Esta norma europea especifica parámetros fundamentales de los sistemas de radiografía computarizada con el objetivo de permitir obtener resultados satisfactorios y repetibles de forma económica. Las técnicas se basan tanto en la teoría fundamental como en mediciones de prueba. Este documento especifica el rendimiento de los sistemas de radiografía computarizada (CR) y la medición de los parámetros correspondientes para el escáner del sistema y la placa de almacenamiento de imágenes de fósforo (IP). Describe la clasificación de estos sistemas en combinación con pantallas metálicas específicas para radiografía industrial. Se pretende garantizar que la calidad de las imágenes, en la medida en que esté influenciada por el sistema IP del escáner, cumpla con los requisitos de la Parte 2 de este documento. El documento se refiere a los requisitos de la radiografía de película definidos en EN 584-1 e ISO 11699-1. Esta norma europea define las pruebas del sistema a diferentes niveles. Se describen pruebas más complicadas, que permiten la determinación de parámetros exactos del sistema. Se pueden utilizar para clasificar los sistemas de diferentes proveedores y hacerlos comparables para los usuarios. Estas pruebas se especifican como pruebas del fabricante. Algunos de ellos requieren herramientas especiales, que normalmente no están disponibles en los laboratorios de los usuarios. Por lo tanto, también se describen pruebas de usuario más simples, que están diseñadas para una prueba rápida de la calidad de los sistemas CR y la estabilidad a largo plazo. Hay varios factores que afectan la calidad de una imagen CR, incluida la falta de nitidez geométrica, la relación señal/ruido, la dispersión y la sensibilidad al contraste. Hay varios factores adicionales (por ejemplo, parámetros de escaneo) que afectan la lectura precisa de imágenes en IP expuestas utilizando un escáner óptico. Los factores de calidad se pueden determinar con mayor precisión mediante las pruebas del fabricante como se describe en este documento. Para garantizar la calidad se describen objetivos de prueba individuales, que se recomiendan para pruebas prácticas de usuario. Estas pruebas se pueden realizar por separado o mediante el uso del CR Phantom (Anexo B). Este CR Phantom incorpora muchos de los métodos básicos de evaluación de calidad y aquellos asociados con el correcto funcionamiento de un sistema CR, incluido el escáner, para la lectura de placas expuestas y el borrado correcto de IP para uso futuro de cada placa. Las clases del sistema CR en este documento no se refieren a placas de imagen de ningún fabricante en particular. Una clase de sistema CR resulta del uso de una determinada placa de imagen junto con las condiciones de exposición (especialmente la exposición total), el tipo de escáner y los parámetros de escaneo.

DIN EN 14784-1:2005 Documento de referencia

• EN 462-5 Pruebas no destructivas - Calidad de imagen de radiografías - Parte 5: Indicadores de calidad de imagen (tipo de cable dúplex), Determinación del valor de falta de nitidez de la imagen
• EN 584-1 Ensayos no destructivos - Película radiográfica industrial - Parte 1: Clasificación de sistemas de películas para radiografía industrial*， 2006-04-01 Actualizar

DIN EN 14784-1:2005 Historia

• 2005 DIN EN 14784-1:2005-11 Ensayos no destructivos. Radiografía industrial computarizada con placas de almacenamiento de imágenes de fósforo. Parte 1: Clasificación de sistemas; Versión alemana EN 14784-1:2005
• 2005 DIN EN 14784-1:2005 Ensayos no destructivos. Radiografía industrial computarizada con placas de almacenamiento de imágenes de fósforo. Parte 1: Clasificación de sistemas; Versión inglesa de DIN EN 14784-1