JJF 1331-2011
Especificación de calibración para micrómetros inductivos (Versión en inglés)
- Estándar No.
- JJF 1331-2011
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2011
- Organización
- National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China
- Ultima versión
- JJF 1331-2011
- Reemplazar
- JJG 396-2002
- Alcance
- Esta especificación es aplicable a la calibración de micrómetros inductivos con resolución (valor de gradación) (0,01 ~ 10) μm y rango nominal (-1000 ~ +1000) μm.
JJF 1331-2011 Documento de referencia
- GB/T 26094-2010 Instrumento de medición de longitud inductivo.
- GB/T 26095-2010 micrómetro de columna electrónico
- GB/T 26097-2010 Instrumento de medición de longitud inductivo con pantalla digital.
JJF 1331-2011 Historia
- 2011 JJF 1331-2011 Especificación de calibración para micrómetros inductivos
- 1970 JJF 1331-1990 Especificaciones técnicas de operación de referencia de energía láser de 1 ~ 40 julios
JJF 1331-2011 Especificación de calibración para micrómetros inductivos ha sido cambiado a JJG 396-2002 Reglamento de verificación de micrómetros inductivos.
