JIS R 1693-2:2012 Método de medición de la emisividad de cerámicas finas y compuestos de matriz cerámica. Parte 2: Emisividad normal mediante método reflectante utilizando FTIR.
2012JIS R 1693-2:2012 Método de medición de la emisividad de cerámicas finas y compuestos de matriz cerámica. Parte 2: Emisividad normal mediante método reflectante utilizando FTIR.