ISO 16243:2011
Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)

Estándar No.

ISO 16243:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

International Organization for Standardization (ISO)

Ultima versión

ISO 16243:2011

Alcance

Esta norma internacional especifica el nivel mínimo de información que debe proporcionar el analista después del análisis de una muestra de prueba mediante espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS). Incluye información que debe registrarse en el registro analítico.

ISO 16243:2011 Documento de referencia

• ISO 18115-1 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 1: Términos generales y términos utilizados en espectroscopia.*， 2023-06-01 Actualizar

ISO 16243:2011 Historia

• 2011 ISO 16243:2011 Análisis químico de superficies: registro y generación de informes de datos en espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)