ASTM E721-11 Guía estándar para determinar espectros de energía de neutrones a partir de sensores de neutrones para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
Es importante conocer el espectro de energía de la fuente de neutrones particular empleada en las pruebas de dureza de la radiación de dispositivos electrónicos para relacionar los efectos de la radiación con la degradación del rendimiento del dispositivo. Esta guía describe los factores que deben considerarse al elegir e implementar la metodología de ajuste del espectro. Aunque la selección de sensores (láminas) y la determinación de respuestas (actividades) se analizan en la Guía E720, el experimento no debe divorciarse del análisis. De hecho, es ventajoso que el analista que realiza la determinación del espectro participe estrechamente en el diseño del experimento para garantizar que los datos obtenidos proporcionen el espectro más preciso posible. Estos datos incluyen lo siguiente: (1) respuestas medidas, como las actividades de las láminas expuestas en el medio ambiente y sus incertidumbres, (2) funciones de respuesta, como secciones transversales de reacción junto con correlaciones e incertidumbres apropiadas, (3) la geometría y los materiales en el entorno de prueba, y (4) una función de prueba o espectro previo y sus incertidumbres obtenidas de un cálculo de transporte o de experiencia previa.1.1 Esta guía cubre los procedimientos para determinar los espectros de fluencia diferencial de energía de los neutrones utilizados en las pruebas de dureza de radiación de dispositivos electrónicos. dispositivos semiconductores. Los tipos de fuentes de neutrones cubiertos específicamente en esta guía son fuentes de fisión o de fisión de energía degradada que se utilizan en modo estacionario o de pulso. 1.2 Esta guía proporciona orientación y criterios que se pueden aplicar durante el proceso de elección de la metodología de ajuste del espectro que mejor se adapte a los datos disponibles y sea relevante para el entorno que se investiga. 1.3 Esta guía se utilizará junto con la Guía E720 para caracterizar los espectros de neutrones y se utilizará junto con la Práctica E722 para caracterizar los parámetros relacionados con daños normalmente asociados con las pruebas de dureza de la radiación de dispositivos semiconductores electrónicos. Nota 18212;Aunque la Guía E720 solo analiza los sensores de lámina de activación, se puede utilizar cualquier sensor de respuesta de neutrones dependiente de energía para el cual se conoce una función de respuesta (1). Nota 28212;Para conocer la terminología utilizada en esta guía, consulte Terminología E170. 1.4 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.5 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM E721-11 Historia
2022ASTM E721-22 Guía estándar para determinar espectros de energía de neutrones a partir de sensores de neutrones para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
2016ASTM E721-16 Guía estándar para determinar espectros de energía de neutrones a partir de sensores de neutrones para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
2011ASTM E721-11 Guía estándar para determinar espectros de energía de neutrones a partir de sensores de neutrones para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
2007ASTM E721-07 Guía estándar para determinar espectros de energía de neutrones a partir de sensores de neutrones para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
2001ASTM E721-01 Guía estándar para determinar espectros de energía de neutrones a partir de sensores de neutrones para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos
1994ASTM E721-94 Guía estándar para determinar espectros de energía de neutrones a partir de sensores de neutrones para pruebas de dureza de radiación de productos electrónicos