BS EN 14571:2005
Recubrimientos metálicos sobre materiales de base no metálica. Medición del espesor del recubrimiento. Método de microresistividad.
- Estándar No.
- BS EN 14571:2005
- Fecha de publicación
- 2005
- Organización
- British Standards Institution (BSI)
- Ultima versión
- BS EN 14571:2005
- Reemplazar
- 02/123911 DC-2002
- Alcance
- Este documento describe un método para mediciones no destructivas del espesor de recubrimientos conductores sobre materiales base no conductores. Este método se basa en el principio de medición de la resistividad de la lámina y es aplicable a cualquier recubrimiento conductor y capas de metal y materiales semiconductores. En general, la sonda debe adaptarse a la conductividad y al espesor de la aplicación respectiva. Sin embargo, este documento se centra en revestimientos metálicos sobre materiales base no conductores (por ejemplo, cobre sobre sustratos de plástico, placas de circuito impreso). NOTA 1 Este método también se aplica a la medición del espesor del cobre a través de orificios de placas de circuito impreso. Sin embargo, para esta aplicación es necesaria una geometría de sonda diferente a la descrita en este documento. NOTA 2 Este método también es aplicable para mediciones de espesor de recubrimientos conductores sobre materiales base conductores, si la resistividad del recubrimiento y del material base es diferente. Este caso no se considera en este documento.
BS EN 14571:2005 Historia
- 2005 BS EN 14571:2005 Recubrimientos metálicos sobre materiales de base no metálica. Medición del espesor del recubrimiento. Método de microresistividad.
