ASTM E2819-11
Práctica estándar para el muestreo continuo de uno y varios niveles de un flujo de productos por atributos indexados por AQL

Estándar No.

ASTM E2819-11

Fecha de publicación

2011

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

Remplazado por

ASTM E2819-11(2015)

Ultima versión

ASTM E2819-11(2021)

Alcance

La razón para preservar los estándares de muestreo militares es que muchas organizaciones en todo el mundo todavía los utilizan en su forma actual. MIL-STD-1235B ya no cuenta con el respaldo del Departamento de Defensa de EE. UU. A mediados de la década de 1990 y está agotado, pero existe en el dominio público. Esta práctica representa una conversión de MIL-STD-1235B a un estándar respaldado por ASTM. Esta práctica proporciona las tablas y procedimientos para aplicar cinco tipos diferentes de planes de muestreo continuo para inspección por atributos. Estos planes de muestreo continuo se analizan en las Secciones 6 a 10 de esta práctica y cada sección incluye información sobre: (a) Inicio de la inspección del 100 % en uso. (b) Requisitos sobre cuándo pasar a la inspección por muestreo. c) Condiciones que justifican un retorno al 100 % de la inspección. (d) Cuando se puede realizar un cambio en la Letra del Código, si se desea. (e) Qué hacer cuando el inspector de verificación encuentra un defecto que originalmente fue considerado conforme por el inspector(es) de inspección, es decir, una inspección ineficaz. f) Situaciones en las que se descubre un defecto antes del cambio a la inspección al 100 %, lo que provoca períodos excesivos de inspección al 100 %, por lo que se deben tomar medidas, es decir, períodos prolongados de inspección. La Sección 6 (Sección 2 en MIL-STD-1235B) describe procedimientos y aplicaciones específicos de los planes de muestreo CSP-1, un procedimiento de muestreo continuo de un solo nivel que prevé la alternancia entre secuencias de inspección al 100 % e inspección por muestreo. La Sección 7 (Sección 3 en MIL-STD-1235B) describe procedimientos y aplicaciones específicos de los planes de muestreo CSP-F, una variación de los planes CSP-1 en el sentido de que los planes CSP-F se aplican a una tirada relativamente corta de productos, permitiendo así números de autorización que se utilizarán. La Sección 8 (Sección 4 en MIL-STD-1235B) describe procedimientos y aplicaciones específicos de los planes de muestreo CSP-2, una modificación de CSP-1 en el sentido de que la inspección al 100 % se reanuda solo después de que un número prescrito de unidades libres de defectos separe dos muestras defectuosas. unidades. La Sección 9 (Sección 5 en MIL-STD-1235B) describe procedimientos y aplicaciones específicos de los planes de muestreo CSP-T, un procedimiento de muestreo continuo de múltiples niveles que prevé la reducción de la frecuencia de muestreo tras la demostración de una calidad superior del producto. La Sección 10 (Sección 6 en MIL-STD-1235B) describe procedimientos y aplicaciones específicos de los planes de muestreo CSP-V, un procedimiento de muestreo continuo de un solo nivel que es una alternativa al CSP-T en el sentido de que estos planes prevén la reducción del número de autorización en buenas condiciones. situaciones de calidad donde la reducción de la frecuencia de muestreo no tiene mérito económico.1.1 Esta práctica establece tablas y procedimientos para aplicar cinco tipos diferentes de planes de muestreo continuo para la inspección por atributos utilizando MIL-STD-1235B como base para muestrear un flujo constante de lotes indexados por AQL. 1.2 Esta práctica proporciona los planes de muestreo de MIL-STD-1235B en formato ASTM para uso de los comités de ASTM y otros. Reconoce el uso continuo de MIL-STD-1235B en industrias respaldadas por ASTM. La mayor parte del texto original de MIL-STD-1235B se conserva en las Secciones 6 a 10 de esta práctica. 1.3 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM E2819-11 Documento de referencia

• ASTM E1994 Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados a procesos
• ASTM E2234 Práctica estándar para muestrear un flujo de productos por atributos indexados por AQL
• ASTM E456 Terminología estándar relacionada con la calidad y las estadísticas

ASTM E2819-11 Historia

• 2021 ASTM E2819-11(2021) Práctica estándar para el muestreo continuo de uno y varios niveles de un flujo de productos por atributos indexados por AQL
• 2015 ASTM E2819-11(2015) Práctica estándar para el muestreo continuo de uno y varios niveles de un flujo de productos por atributos indexados por AQL
• 2011 ASTM E2819-11 Práctica estándar para el muestreo continuo de uno y varios niveles de un flujo de productos por atributos indexados por AQL