BS EN 60749-40:2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando un medidor de tensión

Estándar No.

BS EN 60749-40:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS EN 60749-40:2011

Remplazado por

NF V08-010-4:2017

BS EN 60749-40:2011 Historia

• 2011 BS EN 60749-40:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando un medidor de tensión