BS ISO 14701:2011
Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.

Estándar No.

BS ISO 14701:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

British Standards Institution (BSI)

Estado

 2018-11

Remplazado por

BS ISO 14701:2018

Ultima versión

BS ISO 14701:2018

BS ISO 14701:2011 Historia

• 2018 BS ISO 14701:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
• 2011 BS ISO 14701:2011 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.