Esta norma europea define un método para la determinación de las concentraciones de elementos traza de Al, Ca, Cr, Cu, Fe, Mg, Ni, Ti, V y Zr en carburo de silicio en polvo y granulado. Dependiendo del elemento, la longitud de onda, las condiciones del plasma y el peso, este método de prueba es aplicable para contenidos en masa de las trazas de contaminación anteriores desde aproximadamente 0,1 mg/kg hasta aproximadamente 1000 mg/kg, después de la evaluación también desde 0,001 mg/kg hasta aproximadamente 5000 mg/kg. NOTA 1 Generalmente para la espectrometría de emisión óptica que utiliza plasma acoplado inductivamente (ICP OES) y vaporización electrotérmica (ETV) existe un rango de trabajo lineal de hasta cuatro órdenes de magnitud. Este rango se puede ampliar para los elementos respectivos mediante la variación del peso o eligiendo líneas con diferente sensibilidad. Después de una verificación adecuada, la norma también es aplicable a otros elementos metálicos (excepto Rb y Cs) y algunas contaminaciones no metálicas (como P y S) y otros materiales afines no metálicos en polvo o granulares como carburos, nitruros, grafito, hollín, coque, carbón y algunos otros materiales oxidados. NOTA 2 Existe experiencia positiva con materiales como por ejemplo grafito, B4C, Si3N4, BN y varios óxidos metálicos así como con la determinación de P y S en algunos de estos materiales.
EN 15991:2011 Historia
2015EN 15991:2015 Ensayos de materiales cerámicos y básicos: determinación directa de fracciones de masa de impurezas en polvos y gránulos de carburo de silicio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP OES) con vaporización electrotérmica (ETV)