GB/T 13151-2005 (Versión en inglés)

Estándar No.: GB/T 13151-2005
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2005
Organización: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión: GB/T 13151-2005
Reemplazar: GB/T 13151-1991

Alcance: El Sistema de Evaluación de Calidad de Componentes Electrónicos (IECQ) de la Comisión Electrotécnica Internacional sigue los estatutos de la Comisión Electrotécnica Internacional y funciona bajo la autorización de la Comisión Electrotécnica Internacional. El objetivo del sistema de evaluación es definir el procedimiento de evaluación de la calidad de tal manera que los componentes electrónicos liberados por un Estado miembro como conformes con los requisitos de las normas aplicables también sean aceptables en todos los demás Estados miembros sin pruebas adicionales. Esta especificación detallada en blanco forma parte de una serie de especificaciones detalladas en blanco para dispositivos semiconductores y debe utilizarse junto con las siguientes normas nacionales. ——GB/T 4589.1-1989 Especificación general para dispositivos semiconductores, dispositivos discretos y circuitos integrados. ——GB/T 12560-1999 Especificaciones separadas para dispositivos semiconductores y dispositivos discretos.

GB/T 13151-2005 Historia

2005 GB/T 13151-2005 Dispositivos semiconductores-Dispositivos discretos-Parte 6: tiristores-Sección tres-Especificación detallada en blanco para tiristores de triodo de bloqueo inverso, ambientales y de caja, para corrientes superiores a 100 A
1991 GB/T 13151-1991 Especificación detallada en blanco para tiristores de triodo de bloqueo inverso, ambientales o de caja, por encima de 100 A