SANS 216-4-1:2009
Especificación para aparatos y métodos de medición de inmunidad y perturbaciones radioeléctricas Parte 4-1: Incertidumbres, estadísticas y modelización de límites - Incertidumbres en pruebas EMC estandarizadas

Estándar No.

SANS 216-4-1:2009

Fecha de publicación

2009

Organización

ZA-SANS

Ultima versión

SANS 216-4-1:2009

Alcance

Brinda orientación sobre el tratamiento de incertidumbres a quienes participan en el desarrollo o modificación de los estándares de compatibilidad electromagnética (EMC) de CISPR. Además, se proporciona información general útil para quienes aplican las normas.

SANS 216-4-1:2009 Historia

• 2009 SANS 216-4-1:2009 Especificación para aparatos y métodos de medición de inmunidad y perturbaciones radioeléctricas Parte 4-1: Incertidumbres, estadísticas y modelización de límites - Incertidumbres en pruebas EMC estandarizadas
• 2005 SANS 216-4-1:2005 Especificación para aparatos y métodos de medición de inmunidad y perturbaciones radioeléctricas Parte 4-1: Incertidumbres, estadísticas y modelización de límites - Incertidumbres en pruebas EMC estandarizadas