BS EN 62374:2008
Dispositivos semiconductores. Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para películas dieléctricas de puerta

Estándar No.

BS EN 62374:2008

Fecha de publicación

2008

Organización

British Standards Institution (BSI)

Estado

Ultima versión

BS EN 62374:2008

Reemplazar

04/30113827 DC-2004

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