NF C80-203*NF EN 62417:2010
Dispositivos semiconductores: pruebas de iones móviles para transistores de efecto de campo semiconductores de óxido metálico (MOSFET).

Estándar No.

NF C80-203*NF EN 62417:2010

Fecha de publicación

2010

Organización

Association Francaise de Normalisation

Ultima versión

NF C80-203*NF EN 62417:2010

Remplazado por

BS ISO 48-2:2018

NF C80-203*NF EN 62417:2010 Historia

• 2010 NF C80-203*NF EN 62417:2010 Dispositivos semiconductores: pruebas de iones móviles para transistores de efecto de campo semiconductores de óxido metálico (MOSFET).