BS ISO 12406:2010
Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.

Estándar No.

BS ISO 12406:2010

Fecha de publicación

2010

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS ISO 12406:2010

BS ISO 12406:2010 Historia

• 2010 BS ISO 12406:2010 Análisis químico de superficies. Espectrometría de masas de iones secundarios. Método para perfilar en profundidad el arsénico en silicio.