IEC 62374-1:2010
Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas

Estándar No.

IEC 62374-1:2010

Fecha de publicación

2010

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC 62374-1:2010

Alcance

Esta parte de IEC 62374 describe un método de prueba, una estructura de prueba y un método de estimación de la vida útil de la prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas aplicadas en dispositivos semiconductores.

IEC 62374-1:2010 Historia

• 2010 IEC 62374-1:2010 Dispositivos semiconductores - Parte 1: Prueba de ruptura dieléctrica dependiente del tiempo (TDDB) para capas intermetálicas