IEC 61000-4-20:2010 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)
Alcance y objeto Esta parte de IEC 61000 se relaciona con métodos de prueba de emisión e inmunidad para equipos eléctricos y electrónicos que utilizan varios tipos de guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM). Estos tipos incluyen estructuras abiertas (por ejemplo, líneas de banda y simuladores de pulso electromagnético) y estructuras cerradas (por ejemplo, células TEM). Estas estructuras se pueden clasificar además como guías de ondas TEM uno-@ dos-@ o multipuerto. El rango de frecuencia depende de los requisitos de prueba específicos y del tipo de guía de ondas TEM específico. El objeto de esta norma es describir ? Características de la guía de ondas TEM@, incluidos rangos de frecuencia típicos y limitaciones de tamaño de EUT; ? métodos de validación de guías de ondas TEM para pruebas EMC; ? la definición de EUT (es decir, gabinete y cableado de EUT); ? configuraciones de prueba @ procedimientos @ y requisitos para pruebas de emisiones radiadas en guías de onda TEM y ? configuraciones de prueba@procedimientos@y requisitos para pruebas de inmunidad radiada en guías de ondas TEM. NOTA Los métodos de prueba se definen en esta norma para medir los efectos de la radiación electromagnética en los equipos y las emisiones electromagnéticas de los equipos en cuestión. La simulación y medición de la radiación electromagnética no es suficientemente exacta para la determinación cuantitativa de los efectos para todas las instalaciones de uso final. Los métodos de prueba definidos están estructurados para el objetivo principal de establecer una repetibilidad adecuada de los resultados en varias instalaciones de prueba para el análisis cualitativo de los efectos. Esta norma no pretende especificar las pruebas que se aplicarán a ningún aparato o sistema en particular. La intención principal de esta norma es proporcionar una referencia básica general para todos los comités de productos de la IEC interesados. Para las pruebas de emisiones radiadas, los comités de productos deben seleccionar límites de emisiones y métodos de prueba en consulta con las normas CISPR. Para las pruebas de inmunidad radiada, los comités de productos siguen siendo responsables de la elección adecuada de las pruebas de inmunidad y los límites de las pruebas de inmunidad que se aplicarán a los equipos dentro de su alcance. Esta norma describe métodos de prueba que son independientes de los de IEC 61000-4-3.1. 1 Estos otros métodos de prueba distintos pueden usarse cuando así lo especifican los comités de producto @ en consulta con CISPR y TC 77.
IEC 61000-4-20:2010 Historia
2022IEC 61000-4-20:2022 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)
2010IEC 61000-4-20:2010 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)
2006IEC 61000-4-20/AMD1:2006 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición - Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM); Enmienda 1
2003IEC 61000-4-20:2003 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-20: Técnicas de prueba y medición; Pruebas de emisión e inmunidad en guías de ondas electromagnéticas transversales (TEM)