GOST 26239.1-1984
Silicio semiconductor, materias primas para su producción y cuarzo. Método de determinación de impurezas.

Estándar No.

GOST 26239.1-1984

Fecha de publicación

1984

Organización

RU-GOST R

Ultima versión

GOST 26239.1-1984

GOST 26239.1-1984 Documento de referencia

• GOST 123-1978 Cobalto. Requerimientos técnicos
• GOST 1277-1975 Reactivos. Nitrato de plata. Especificaciones
• GOST 1467-1977 Cadmio. Requerimientos técnicos
• GOST 3118-1977 Reactivos. Ácido clorhídrico. Especificaciones
• GOST 3640-1979 Zinc. Especificaciones
• GOST 3778-1977 Dirigir. Especificaciones
• GOST 4331-1978 Reactivos. Óxido negro de níquel. Especificaciones
• GOST 4461-1977 Reactivos. Ácido nítrico. Especificaciones
• GOST 4526-1975 Reactivos. Óxido de magnesio. Especificaciones
• GOST 4530-1976 Reactivos. Carbonato de calcio. Especificaciones
• GOST 5905-1979 Cromo metálico. Especificaciones
• GOST 804-1972 Lingotes de magnesio primario. Especificación
• GOST 849-1970 Níquel primario. Especificaciones
• GOST 859-1978 Cobre. Los grados

GOST 26239.1-1984 Historia

• 1984 GOST 26239.1-1984 Silicio semiconductor, materias primas para su producción y cuarzo. Método de determinación de impurezas.