GOST 18986.7-1973
Diodos semiconductores. Métodos para medir el tiempo de vida.

Estándar No.

GOST 18986.7-1973

Fecha de publicación

1973

Organización

RU-GOST R

Ultima versión

GOST 18986.7-1973

GOST 18986.7-1973 Documento de referencia

• GOST 18986.0-1974 Diodos semiconductores. Métodos de medida de parámetros eléctricos. Requerimientos generales*， 1974-11-05 Actualizar
• GOST 18986.6-1973 Diodos semiconductores. Método para medir la carga de recuperación.
• GOST 19656.0-1974 Diodos semiconductores UHF. Métodos de medición de parámetros eléctricos. Condiciones generales*， 1974-11-05 Actualizar

GOST 18986.7-1973 Historia

• 1973 GOST 18986.7-1973 Diodos semiconductores. Métodos para medir el tiempo de vida.