IEEE Std C63.15-2010
Práctica recomendada del estándar nacional estadounidense para la medición de inmunidad de equipos eléctricos y electrónicos

Estándar No.

IEEE Std C63.15-2010

Fecha de publicación

2010

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Estado

 2018-03

Remplazado por

IEEE C63.15-2017

Ultima versión

IEEE C63.15-2017

Alcance

AVISO IMPORTANTE: Esta norma no pretende garantizar la seguridad, la salud o la protección del medio ambiente. Los implementadores de la norma son responsables de determinar las prácticas o requisitos reglamentarios apropiados en materia de seguridad, protección, medio ambiente y salud. Este documento IEEE está disponible para su uso sujeto a avisos importantes y exenciones de responsabilidad legales. Estos avisos y exenciones de responsabilidad aparecen en todas las publicaciones que contienen este documento y se pueden encontrar bajo el título "Aviso importante" o "Avisos y exenciones de responsabilidad importantes sobre los documentos IEEE". También se pueden obtener solicitándolos al IEEE o consultarlos en http://standards.ieee.org/IPR/disclaimers.html. Los métodos de prueba de inmunidad conducida (CI) e inmunidad radiada (RI) de esta práctica recomendada no se aplican universalmente a todos los productos. Se deben seleccionar los métodos de prueba aplicables. Un ingeniero de EMC calificado debe documentar la planificación de las pruebas y la justificación para utilizar pruebas de inmunidad particulares. Este documento tiene como objetivo a) Identificar los métodos de prueba de inmunidad preferidos u opcionales. b) Describir técnicas de medición específicas. c) Sugerir criterios de degradación del desempeño del producto aplicables a productos generales y específicos. d) Identificar las especificaciones de la instrumentación de pruebas. Siempre que sea posible, se utilizan y resumen las normas voluntarias existentes. Cabe señalar que las técnicas enumeradas en este documento no deben limitar de ninguna manera al usuario a un método particular para aumentar la inmunidad del producto. Se recomiendan los niveles de inmunidad de este documento. Si las clasificaciones y tipos de productos tienen otros niveles de inmunidad aplicables, tendrán prioridad. Los equipos desarrollados para aplicaciones militares deben utilizar MIL-STD-461E1 o ediciones posteriores para procedimientos y límites de prueba.

IEEE Std C63.15-2010 Documento de referencia

• ANSI C63.12 Práctica recomendada del estándar nacional estadounidense para límites de compatibilidad electromagnética y niveles de prueba: línea roja*， 2016-01-29 Actualizar
• ANSI C63.14 Diccionario estándar nacional estadounidense de compatibilidad electromagnética (EMC), incluidos los efectos ambientales electromagnéticos (E3)*， 2014-12-05 Actualizar
• ANSI C63.2 Norma nacional estadounidense para especificaciones de instrumentos de medición de intensidad de campo y interferencias electromagnéticas en el rango de frecuencia de 9 kHz a 40 GHz*， 2017-02-20 Actualizar
• IEC 61000-4-3:2006 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-3: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a campos electromagnéticos, de radiofrecuencia y radiados
• IEC 61000-4-5:2005 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-5: Técnicas de prueba y medición - Prueba de inmunidad a sobretensiones
• IEC 61000-4-6:2001 Compatibilidad electromagnética (CEM) - Parte 4-6: Técnicas de prueba y medición; Inmunidad a las perturbaciones conducidas, inducidas por campos de radiofrecuencia.
• IEC 61000-6-1 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 6-1: Estándares genéricos - Estándar de inmunidad para entornos residenciales, comerciales e industriales ligeros*， 2016-08-10 Actualizar
• IEC 61000-6-2 Compatibilidad electromagnética (EMC) - Parte 6-2: Estándares genéricos - Estándar de inmunidad para entornos industriales*， 2016-08-10 Actualizar

IEEE Std C63.15-2010 Historia

• 2017 IEEE C63.15-2017 Práctica recomendada del estándar nacional estadounidense para la medición de inmunidad de equipos eléctricos y electrónicos
• 2010 IEEE Std C63.15-2010 Práctica recomendada del estándar nacional estadounidense para la medición de inmunidad de equipos eléctricos y electrónicos