BS ISO 17331:2004+A1:2010
Análisis químico de superficies. Métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)

Estándar No.

BS ISO 17331:2004+A1:2010

Fecha de publicación

2005

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS ISO 17331:2004+A1:2010

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02/122627 DC:2002 BS ISO 17331:2004

BS ISO 17331:2004+A1:2010 Historia

• 2005 BS ISO 17331:2004+A1:2010 Análisis químico de superficies. Métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)